Think Precise
光测试检测仪器
Santec可提供一套完整的用于光学特性测试系统，搭配Santec的不同的仪器仪表可配置出不同的高速分析测试解决方案。Santec可根据您的需要，进行定制化，欢迎随时联系我们。
光学器件扫描测试系统
快速扫描测试系统(Swept Test System)
该系统由可调谐激光器（TSL系列）、偏振控制器（PCU-110)、光功率计(MPM)以及相应的软件组成。可对IL/WDL/PDL等光学器件进行测试，适用于R&D和产线。多工位快速扫描测试系统
通过将Swept Test System与Multi Branch Unit相组合，可进一步提高测试效率。
Swept Test System introduction video
( Multi-station measurement )
多通道光功率计
MPM-210H/MPM-211, 212, 213,215
快速多通道光功率计- 高速测量(Up to 100万logging sampling points /每个通道)
- 功率计模块(MPM-211/212/215)
- 电流计模块(MPM-213)
- 多达20-Port测量
- 动态功率范围 (logging mode)
50dB/scan (MPM-211 / 212)
70dB/scan (MPM-215)
