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Think Precise

光测试检测仪器

Santec可提供一套完整的用于光学特性测试系统,搭配Santec的不同的仪器仪表可配置出不同的高速分析测试解决方案。Santec可根据您的需要,进行定制化,欢迎随时联系我们。

光学器件扫描测试系统

快速扫描测试系统(Swept Test System)

该系统由可调谐激光器(TSL系列)、偏振控制器(PCU-110)、光功率计(MPM)以及相应的软件组成。可对IL/WDL/PDL等光学器件进行测试,适用于R&D和产线。

多工位快速扫描测试系统

通过将Swept Test System与Multi Branch Unit相组合,可进一步提高测试效率。


Swept Test System introduction video
( Multi-station measurement )

OTF-350

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多通道光功率计

MPM-210H/MPM-211, 212, 213

快速多通道光功率计

  • 高速测量(Up to 100万logging sampling points /每个通道)
  • 功率计模块(MPM-211/212/215)
  • 电流计模块(MPM-213)
  • 多达20-Port测量
  • 动态功率范围 (logging mode)
    50dB/scan (MPM-211 / 212)
    70dB/scan (MPM-215)
MPM-210
MPM-210H/MPM-211, 212, 213,215

产品详细

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