IVS-1000/2000

IVS-1000/2000/4000

Complete SS-OCT测试系统
IVS-1000(1060nm) -2000(1310nm) -4000(1700nm)

Santec的OCT系统IVS-1000/2000/4000,我们可以完全根据客户的需求来订做,可广泛应用于研发、可行性研究和产品开发等。该系统根据客户的不同需求配置Santec的不同规格的扫频光源、订做的干涉计和探头。硬件、软件可以根据客户的需求来订做,软件方面可以提供 LabVIEW®的程序代码,或者SDK。
IVS-1000/2000

应用
  • 工业非侵入式检测 薄膜厚度(表面保护膜、涂层等)
  • 瑕疵检测(合成树脂、塑料、半导体、涂层 等)
  • 生物&医学显微检测
特征
  • 非接触、非破坏、非侵入测量
  • 高达30fps 实时、成像
  • 1D&2D&3D的成像功能
  • 检测数据的连续保存功能
  • 扫描角度可以自由设定
  • OCT图像数据、实时数据的输入、输出
  • 根据客户的要求定制硬件、软件 (option)
  • LabVIEW(VI文件,源代码程序 (option)
  • 多普勒&偏光OCT(option)

IVS-2000 Brochure

IVS-1000/2000/4000 line-up
Model No. Center Wavelength Features Details
IVS-4000-ST 1700nm Low Scatter MEMS type
IVS-2000-ST 1310nm General and In-line Inspection Polygon scanner type
IVS-2000-HR 1310nm High Resolution Polygon scanner type
IVS-2000-LC 1310nm Long imaging range MEMS type
IVS-2000-HS 1310nm High Speed :100kHz A-line MEMS type
IVS-1000-VCSEL 1060nm Tunable VCSEL Tunable VCSEL
系统构成
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